30年氟鋁酸鉀、氟鋁酸鈉生產(chǎn)廠家
氟鋁酸鉀的xrd圖譜目錄
XRD、IR、SEM、EDS及紫外可見吸收的測試原理及具體分析步驟（材料測試技術(shù)里面的）
如果您需要氟鋁酸鉀的XRD圖譜，建議您聯(lián)系專業(yè)的化學(xué)實驗室或研究機構(gòu)，他們可以通過實驗和數(shù)據(jù)分析為您提供準確的XRD圖譜。同時，您也可以在學(xué)術(shù)期刊或數(shù)據(jù)庫中查找相關(guān)的研究論文或數(shù)據(jù)，以獲取更詳細的信息。
一、分析方法： 1、數(shù)據(jù)的輸入 Jade軟件可以直接讀取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射儀的原始數(shù)據(jù)。
打開File\patterns,將出現(xiàn)如附件中所示畫面，先（I）找到你文件位置，從（III）的下拉框中選擇你的數(shù)據(jù)格式，按（II）選擇。
很多儀器輸出文件的格式都是*.raw,實際上都是不一樣的，但格式選錯了也沒關(guān)系，軟件會給你自動轉(zhuǎn)到合適的格式中去的。
高級一點的：有一些數(shù)據(jù)格式在（III）的下拉框中沒有，比如最常見的txt，xy等，此時你可以自己動手設(shè)置，在以上的數(shù)據(jù)輸入面板中，點擊工具欄上的“import",進入格式設(shè)置畫面，如附件所示，a區(qū)為注釋區(qū)，b區(qū)為數(shù)據(jù)格式區(qū)，對于最簡單的一列角度，一列強度的數(shù)據(jù)格式，a區(qū)不用填寫，b區(qū)在”anglecolumn“前打上勾，數(shù)據(jù)從第1行開始讀，每行1列數(shù)據(jù)，強度數(shù)據(jù)從第8行開始（角度不算），角度從1至6列，所得數(shù)據(jù)格式即為附件中所示的數(shù)據(jù)格式。
你也可以按照自己的數(shù)據(jù)格式進行自由改動，如果a區(qū)中表明第1行有說明文字，則數(shù)據(jù)從第2行讀入，相應(yīng)在b區(qū)就將datastarts改成2。
做完上面的工作后，將文件后綴改為你的數(shù)據(jù)后綴（箭頭所指），再將該格式保存下來便可大功告成了。
2基本功能使用：平滑，扣背底 一張XRD圖譜出來，往往因為有空氣散射，漫散射，熒光以及樣品結(jié)晶差等等原因而造成圖譜上存在許多“毛刺”和較高的背底，雖然提高X光強度能成倍提高信噪比，然而有時受儀器和樣品所限，這兩項功能需要用到。
但根據(jù)我個人的經(jīng)驗，要盡量少使用平滑和扣背底，因為這兩項操作帶來的可能后果就是將一些微弱的有用信息一概抹掉了，特別注意的是，如果將數(shù)據(jù)用來做Rietveld精修，更不要進行這兩項操作。
當(dāng)然，如果是將圖譜打印出來給別人看，適當(dāng)進行平滑和扣背底也是個不錯的選擇。
3尋峰和峰型擬合 在尋峰之前最好用標樣校正過2theta值，這些都是儀器操作人員的事情，我就不說了。
打開analyze/findpeaks，或右鍵單擊快捷工具欄中的圖標。
出現(xiàn)一個懸浮框，在“search”里面可以對尋峰的判據(jù)進行設(shè)置，大家可以改動不同的限制條件，然后按“apply”看看有什么變化。
在“Label”里面主要是可以選定標注的內(nèi)容，如d值，2theta值，半峰寬，強度等，這些大家多試幾次就OK了。
如果要將尋峰結(jié)果列出，按下“report”即可。
也可以自己手動直接在圖譜上標峰，大家可以看到有一個懸浮式快捷編輯框“edittoolbar”，左鍵點擊第3個圖標。
然后就可以直接在峰頂標注，如果同時按住“Ctrl”鍵，則可以在圖譜的任何位置上進行標注。
如果要去掉某個峰的標注，則用鼠標將豎線拖到與峰的標注線重疊，出現(xiàn)紅顏色之后點擊右鍵即可。
如果要刪除所有的峰的標注，在窗口中點擊右鍵，選定”Eraseall”即可。
4峰型擬合 如果要得到精確的峰型，峰位信息，一般都要經(jīng)過峰型擬合，JADE提供了單峰擬合的功能。
在峰型擬合前不要進行平滑和扣背底，也不主張預(yù)先自動尋峰。
就像前面一位朋友說的，對于重疊峰的分離比較有難度，也可能會導(dǎo)致軟件“罷工”（我也遇到過這種情況），但對于多數(shù)人來說，峰型擬合就等同于分峰，因此面對重疊峰是不可避免的，我的建議是高角度的峰舍棄，并且分峰要一小段接一小段地進行（背底嚴重的除外）。
二、XRD測的簡單介紹： XRD即X-raydiffraction的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。
X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。
在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。
配合EDX可以獲得材料的元素組成信息
TEM：材料的表面形貌，結(jié)晶性。
配合EDX可以獲得材料的元素組成
FTIR：主要用于測試高分子有機材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結(jié)構(gòu)。
如單鍵，雙鍵等等
Raman：通過測定轉(zhuǎn)動能及和振動能及，用來測定材料的結(jié)構(gòu)。
CV：CV曲線可以測試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導(dǎo)體行業(yè)可以得到直流偏壓
EIS：EIS就是電化學(xué)交流阻抗譜測試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統(tǒng)內(nèi)在串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息
BET：主要是測試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。
XRD：主要是測試材料的物性，晶型的。
高級的XRD還可以測試材料不同晶型的組分。
質(zhì)譜：主要用于鑒定材料的化學(xué)成分，包括液相質(zhì)譜，氣象質(zhì)譜
分散均勻,XRD依然能夠檢測，沒有出現(xiàn)有2種可能：1. Cr的含量太少。
2. 化學(xué)反應(yīng)進入載體晶格。
從你的溫度上看，感覺第一種可能性大。
