氟硼酸鉀測硅目錄
一、實驗原理
氟硼酸鉀中硅含量的測定主要基于鉬藍光譜法。在這種方法中,將樣品中的硅溶解在氟硼酸鉀溶液中,然后加入適量的鉬酸銨和硫酸,形成鉬藍配合物。用分光光度計測定鉬藍的吸光度,算出樣品中硅的量。
二、必要的試劑
氟硼酸鉀
2.鉬酸銨。
3.硫酸
4.硼砂。
5.分光光度計
三、操作步驟
1.準備樣品。
將樣品溶解在氟硼酸鉀溶液中。
加入適量的鉬酸銨和硫酸,制成鉬藍絡合物。
2.顯色反應:
在室溫下放置一段時間,鉬藍就會完全形成并穩定下來。
3.光譜測量:
用分光光度計測量鉬藍的吸光度。
從標準曲線算出樣品中的硅含量。
四、測量范圍
根據GB/T22661.62008標準,本方法適用于氟硼酸鉀中硅含量的測定,測定范圍為≤0.5%。
五、注意事項
1.試劑的選擇:確保所使用的鉬酸銨、硫酸等試劑純度高,避免干擾。
2.顯色條件:控制好顯色時間和溫度,以確保鉬藍配合物的穩定性和準確性。
3.儀器校準:每次測量前,應對分光光度計進行校準,以保證測量結果的準確性。
六、參考文獻
GB/T22661.62008氟硼酸鉀化學分析方法第6部分:鉬藍光譜法測定硅含量。
根據以上步驟和注意事項,可以正確測定氟硼酸鉀中的硅含量,確保實驗結果的可靠性和反復性。
二氧化硅(SiO2)是自然界中廣泛存在的化合物,構成了許多巖石、礦物和玻璃。在工業產品的制造、地質學的研究和其他的分析中,測定樣品中二氧化硅的含量是非常基本和重要的分析工作。
3一、硅含量的測定方法。
31。
重量法。
重量法是硅酸鹽分析中常用的測定方法之一,具體包括二次鹽酸蒸干脫水法、一次鹽酸蒸干脫水法、氯化銨法和聚環氧乙烷凝聚重量法等。這個方法是從氫氟酸和硅生成四氟化硅,揮發留下殘留物,計算硅的含量。適合單一測定硅的含量。
32。
擺動法。
揮灑法適用于硅含量98%以上的試驗樣品。具體步驟如下。在白金坩堝中測定過燒損量的樣品,用少量水浸濕,加入4 ~ 5滴硫酸,進行撒散處理。
33。
光度法。
光度法有鉬酸光度法(硅鉬黃法)和鉬還原光度法(硅鉬藍法)。鉬還原光度法比鉬還原光度法靈敏度高約5倍,濃度范圍為0.04 ~ 2mg/L。
34。
分光法。
所謂光譜法,是用光譜分析技術測定樣品中硅的量的方法。該方法具有較高的精度和準確性,適用于藥品、化工等樣品中的二氧化硅檢測。
35。
離子色譜法。
離子色譜法也經常被用于測定二氧化硅,適用于測定溶液中二氧化硅的量。
3 2、實驗原理和步驟。
31。
重量法。
3實驗原理:氫氟酸和硅反應生成四氟化硅,揮發后留下殘留物,然后計算硅含量。
3實驗的步驟:
1.將樣品加入足夠量的去離子水中,攪拌均勻,過濾成清澈的溶液。
2.在得到的溶液中加入適量的氫氟酸,加熱至沸騰,再煮沸片刻。
3.冷卻后,用鹽酸或硫酸將pH值調節到1.2左右。
4.加入過量的鉬酸銨,攪拌20 - 30分鐘。
5.加入草酸,馬上加入硫酸亞鐵銨,搖勻靜置15分鐘。
6.用一份不加SiO2的空白溶液作為參比,進行顏色分析。
32。
光度法。
3實驗原理:在pH1.1 ~ 1.3的條件下,水溶性硅酸與鉬酸銨反應,定量生成硅鉬藍或硅鉬黃,通過比色法測定其吸光度。
3實驗的步驟:
1.將一系列濃度低于5ppm的標準二氧化硅溶液分別放在比色管中,用蒸餾水稀釋至刻度。
2.加入硫酸,將pH值調節為1.2。
3.加入大量的鉬酸銨,搖晃20 - 30分鐘。
加入大量草酸,然后加入大量硫酸銨,搖勻后放置15分鐘。
5.比較不加SiO2的一份空白溶液,進行顏色分析。
三、注意事項。
在測定二氧化硅的含量時,需要注意以下幾點。
31樣品預處理:確保樣品完全溶解并充分混合,避免局部濃度差。
32.試劑的選擇:選用純度高的試劑以減少誤差。
33.校準儀器:定期校準儀器,確保測量結果的準確性。
34.操作規范:嚴格按照實驗程序進行操作,避免人為誤差。
3第四結論
測定二氧化硅含量的方法多種多樣,選擇合適的測定方法可以提高測定的精度和可靠性。通過合理的實驗設計和規范的操作,可以有效測定樣品中二氧化硅的含量,為工業生產和科學研究提供重要的參考數據。
3硅含量檢測方法的總結。
硅作為存在于地殼中的非金屬元素,被廣泛應用于各個領域。因此,準確測定硅含量對科學研究、工業生產、環境監測等都有著重要的意義。本文將介紹幾種常用的硅含量測量方法,并詳細說明它們各自的特點和適用范圍。
31。
分光法。
分光法是測定樣品在特定波長下的吸光度來決定硅量的方法。這個方法可以根據硅的特定吸收峰直接測定,也可以通過化學反應將硅轉換成硅酸鹽等可測定的化合物后測定。
3還原硅鉬酸鹽光度法
GB/T175182012規定還原硅鉬酸鹽光度法是化學產品中測定硅含量的常用方法。硅含量適合在2μg ~ 200μg的范圍內的試液測定。其操作步驟包括樣品的制備、分解、顯色、比色等。
32。
原子吸收光譜法(AAS)
原子吸收光譜學是用原子化器將樣品中的硅原子化,用光源激發這些原子,使其發出特定波長的光。通過測定這個光的強度,可以確定樣品中硅的量。靈敏度和精度高,適用于痕量硅的測定。
33。
電感耦合等離子體光譜學(ICPMS)
電感耦合等離子體光譜法是硅的高靈敏度測定法。這個方法,用等離子體離子化樣品中的硅原子,用質量分析器測定離子的質量比來推測硅的量。ICPMS的靈敏度非常高,檢測極限很低,可以同時測量多元素,因此適用于痕量硅的測量。
34。
比色法。
比色法是測定硅含量的傳統方法,主要有硅鉬藍法和氟硅酸鉀法。硅鉬藍法,生成硅鉬藍配合物,用光電比色儀進行測定。氟酸鉀定律通過生成不溶性的氟酸鉀沉淀來測定硅含量。
35。
重量法。
重量法是從氫氟酸和硅生成四氟化硅,揮發后留下殘留物來計算硅的含量。雖然單一測定硅的含量很簡單,但是花費時間,不適合大量樣品的測定。
36。
X射線熒光技術(XRF)。
X射線熒光是用X射線照射樣品,使樣品中的原子發射X射線,通過測定其能量和強度來確定樣品中硅的量。無需復雜的預處理,適用于汽油、柴油等液體樣品的硅含量測定。
37。
在線分析儀。
現代科學技術的發展帶來了許多在線硅含量分析儀,如GALVAICAccuseries系列和Polymetro9610sc等。這些設備通常采用雙波長技術和光纖探頭,可實時連續監測水中可溶硅含量,廣泛應用于石化煉廠、發電廠廢水處理等領域。
3結論
硅含量的測定方法各有長處和短處,必須考慮樣品的種類,硅含量,所需的精度,分析速度等選擇合適的方法。對于高純度硅材料的檢測,通常需要更精確和更靈敏的方法,例如質譜分析法。一般的工業樣品,有分光法和重量法等簡便的方法。隨著技術的進步,也許能更高效、更準確地測定硅含量。
氟硅酸鉀含量測定的國家標準。
3 1。
氟利酸鉀(PotassiumFluorosilicate)是光學玻璃制造、陶瓷制造、合成云母、鋁?是廣泛用于鎂冶煉、稀有金屬提取等的無機化合物。為確保產品質量和一致性,需要制定科學、規范的氟硅酸鉀含量測定方法。
3 2,標準編號和發表部門。
本標準編號為HG/T46932014,由中華人民共和國工業和信息化部發布,全國化學標準化技術委員會無機化工分會技術委員會備案。
3 3,適用范圍。
該標準包括光學玻璃制造、陶瓷制造、合成云母、鋁?適用于工業氟含量的測定,包括鎂冶煉,稀有金屬提取等領域的應用。
3四、實驗方法
34.1滴定法。
滴定法是測定氟利酸鉀含量的常用方法之一。其原理是通過滴入試劑和氟酸鉀中的氟離子反應,計算滴入劑的消耗量來確定樣品中氟酸鉀的含量。
具體步驟如下。
1.取適量樣品,用硝酸和氟化氫酸溶解,使硅轉化為硅氟酸。
2.如果加入過多的鉀離子,會沉淀難溶性的氟硅酸鉀。
過濾分離出的沉淀物,用水沖洗后,加入沸水,使氟硅酸鉀沉淀物水解,生成氫氟酸。
4.用氫氧化鈉標準溶液滴定水解生成的氫氟酸,可求出樣品中硅酸鉀的氟化含量。
34.2重量法。
重量法也是常用的測量方法,原理是從氫氟酸和硅生成四氟化硅,揮發后留下殘留物來計算硅的含量。
具體步驟如下。
1.取適量樣品,用硝酸和氟化氫酸溶解,使硅轉化為四氟化硅。
2.使生成的四氟化硅揮發,留下殘留物。
3.量殘留物的質量,根據已知的硅摩爾質量計算樣品中硅的含量。
3 5,驗證規則。
出廠的工業用氟酸鉀都要附質量證書。內容包括生產廠名、廠址、產品名稱、等級、凈含量、批號或生產日期、保質期和本標準號。
3 6、標志、標簽、包裝、運輸、儲存。
31.標志和標簽:每批產品都必須有明顯的標志和標簽。包括產品名稱、規格、批號、生產日期和保質期等信息。
32.包裝:采用工業用氟硅酸鉀雙層包裝,內包裝采用聚乙烯塑料薄膜袋,外包裝采用塑料編織袋。
33.運輸:產品在運輸過程中應避免陽光和雨水直射,防止包裝損壞。
34.儲存:產品應保存在干燥通風良好的倉庫中,避免與有害物質混存。
3七、結論
該標準詳細規定了工業氟酸鉀的要求、測試方法、檢驗規則以及標識、標簽、包裝、運輸和儲存等方面的內容,為工業氟酸鉀的質量管理提供了科學依據和技術支撐以提供為目的。通過嚴格遵守本標準,可以有效地保證產品的質量和一致性。